產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
平行平晶：是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性。
平行平晶：用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。
詳情介紹：
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平行平晶
平行平晶：是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性。
在平晶和待檢測物體之間用以簿片墊起，利用兩物體之間的空氣層對光線的反射后產(chǎn)生的干涉圖像進行檢測待測物體表面的光滑程度。 平行平晶：用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。
具體規(guī)格：
0-25
25-50
50-75
75-100
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